製品紹介 About Goods

受託開発

ディスク式電子部品外観検査システムCCVIS-SN

CCVIS-SN 製品にやさしく連続運転に 適した安定供給でかつ 超高速検査が可能 ・不良品の特徴を浮き立たせる照明技術・処理能力:1,000個/分
  • 特徴
  • 仕様

照明技術

不良品の特徴を浮き立たせる照明技術
4画像一括取得による高精度画像処理システム

処理速度

1,000個/分

概要説明

供給搬送部
供給整列部:ダメージを与えずに整列
自製品にダメージを与えず、自動的に長手方向に整列します。
検査ディスク
検査ディスク:安定搬送・安定検査を実現
検査ディスクではディスク内側より吸引し搬送することにより、
安定搬送・安定検査を実現しました。
ディスク1 ディスク2
ディスク:両面検査を行う
ディスク1で製品の片面、ディスク2でワーク反対側の検査を行います。
選別部
選別部:高速バルブ選別を行う
ディスク内側によって高速バルブ選別を行います。

容易な操作性

装置寸法
W1,050×D850×H1,920
対象ワーク
円柱状ワーク
対象ワークサイズ(mm)「実績」
10.5(L)*φ2.49
検査項目
長さ、幅、色、面積
検査内容
汚点、異物付着、キズ、欠け、割れ、変色、
クラック等
  • 色斑点
  • クラック
  • キズ
  • カケ

システムアウトライン(上面図)